传统光斑的分析方式有明显的局限性，例如烧蚀法等，已经不能满足越来越高的应用需求及精度要求，因此需要具有更、更、成本低廉、操作方便、易于分析和保存的方式，实现对光斑参数的测量和分析。随着ccd技术和计算机技术的不断发展，本文基于
ccd探测器为基础，利用成像方式间接测量光斑特性的系统。光斑分析仪
针对光束的测量和分析，过去几十年中，激光光束光斑分析仪，陆续出现过许多方法，如烧蚀法可以测量强光的光强分布等，人们通过这种方法测量光束尤其是强光的面积和形状等。通过在一个特殊的靶面，利用强光源的照射形成一个烧灼的痕迹，针对这个烧灼痕迹的进一步分析，估算出光斑的一些基本参数。光斑分析仪
这种方法对于某些光源是有效的，例如具有能量集中特性的激光。但是，这种适用于强光源的方法，对于弱光源并不十分适用。并且，该方法得到的一些基本参数都是非常粗略的估计，精度往往达不到要求，并且受到费用和周期的---，光斑分析仪价格，每次测量的数据也不容易保存供以后分析。光斑分析仪
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